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  菲希爾CMS2 STEP鉻鎳銅鍍層電位差測厚儀

  菲希爾CMS2 STEP鉻鎳銅鍍層電位差測厚儀 在多層鎳的質量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化 STEP 測試 ，Couloscope CMS STEP用來測定多層鎳鍍層系統中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學電位差。

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  菲希爾電路板上的銅鍍層測厚儀

  菲希爾電路板上的銅鍍層測厚儀 SR-SCOPE®根據標準EN 14571：2004測量印制電路板頂部的銅涂層的厚度。 它特別適用于在多層或薄層壓板上進行測量，因為由于測量方法的原因，彼此相對的銅層不會相互影響。

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