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  DUALSCOPE MP40+EDX10探頭測量雙層涂層

  DUALSCOPE MP40+EDX10探頭測量雙層涂層 DUALSCOPE®MP40E-S是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數(shù)據(jù)采集設(shè)備。DUALSCOPE MP40用EDX10探頭測量雙層（鐵上的漆層或漆層/鋅層）。MP40在一個類似于MP20的手持式儀器中結(jié)合了磁感應(yīng)和渦流兩種方法。

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