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德國菲希爾FISCHER
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
美國API
杭州思看
美國哈希代理
意大利哈納代理
德國馬爾Mahr
德國艾達米克-霍梅爾Hommel
日本三豐 Mitutoyo
日本KETT
日本柯尼卡美能達KONICA MINOLTA
德國Qnix尼克斯
德國森薩帕特Sensopart
德國BYK
德國EPK
美國狄夫斯高 Defelsko
美國Fluke 福祿克
美國Mark-10測力計
美國SDI
美國FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
美國Fluke福祿克
美國GE無損檢測
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機械設(shè)備
北京時代 TIME
英國易高Elcometer
英國Renishaw雷尼紹
瑞士博勢 Proceq
表面處理層無損檢測系統(tǒng)
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XDAL237 X射線熒光測厚儀 憑借電機驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。
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xan500fischer德國* 手持式、臺式、在線： XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺式機或是直接整合到生產(chǎn)線中。
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便攜式x射線測厚儀* XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺式機或是直接整合到生產(chǎn)線中。在配備了平板電腦后，XAN500同樣采用久經(jīng)考驗的WinFTM軟件。基于基本參數(shù)法的WinFTM軟件不僅能進行材料分析，還能測量鍍層厚度，并可實現(xiàn)無校準（不需標準片）測量。
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德國Fischer x射線測厚儀 XULM 240代理 XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量，20秒的重復(fù)精度可達2.5nm。
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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X射線，菲希爾代理，F(xiàn)ISCHER代理，菲希爾X射線測厚儀，F(xiàn)ISCHER臺式鍍層測厚儀
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菲希爾X射線測厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL230，F(xiàn)ISCHER便攜式測厚儀，菲希爾代理，F(xiàn)ISCHER。菲希爾X熒光射線測厚儀XDL230
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Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀 但是，如果合金中很多元素要測量或存在光譜重疊情況，那么配備半導(dǎo)體探測器的儀器，如XAN120，應(yīng)該更加適合。由于具備非常好的分辨率，它也可以用來區(qū)分例如在牙合金中非常關(guān)鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。
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菲希爾測厚儀